三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱
型 號(hào)
所屬分類高低溫沖擊試驗(yàn)箱
報(bào)價(jià)
發(fā)布時(shí)間2025-03-10
產(chǎn)品概述
三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：
型號(hào) | BS-252IC |
試樣限制 | 本試驗(yàn)設(shè)備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)；儲(chǔ)存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)、儲(chǔ)存生物的試驗(yàn)、儲(chǔ)存強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存 |
容積、重量和尺寸 | |
標(biāo)稱內(nèi)容積 | 252 L |
內(nèi)箱有效尺寸 | 700×600×600 W×H×D（mm） |
外形空間 | 約1650×2043×2225 W×H×D（mm） |
重量 | 1900㎏ |
噪音 | 75db以內(nèi)（離機(jī)臺(tái)正面1米并離地面1.2米處測量） |
三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)
2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)
3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
3. GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)
4. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
5.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
6.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
7.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
- 上一個(gè)： HT/CJX-150優(yōu)質(zhì)高低溫快速試驗(yàn)箱
- 下一個(gè)： 供應(yīng)快速溫度變化試驗(yàn)箱
